内存条治具专区

DEBUGTOOL内存条芯片测试座

N2TU2GT40BU-3C内存条治具
0480A5RJ内存条治具
N2TU2GT40BU-37B内存条测试治具



 
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   产品特点及性能参数:
   ◆采用手动翻盖式结构,操作方便;
   ◆上盖的IC压板采用摆动式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位;
   ◆探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠,而不会损坏锡球;
   ◆高精度的定位槽,保证IC定位精确,测试效率高;
   ◆测试准确性高,大大减少误判率;
   ◆采用进口双头针,探针可更换,维修方便,成本低;
   ◆产品通用程度高,只要换IC限位框,即可测试所有内存IC(宽度≤12MM);
   ◆有球无球均可测试(只需更换上盖的IC压板);
   ◆测试寿命长,有效测试10万次以上;
   ◆内置4个EEPROM,通过一个4位开关切换,可存储4组SPD,方便测试,节约时间;
   ◆绝缘材料:FR4、Torlon、PEI、PEEK;  
   ◆测试频率可达9.3GHz;
   ◆可以免费提供相关的技术支持。
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